標準掃描聲學顯微鏡

SBT超音波科技有限公司所生產的掃描聲學顯微鏡（SAM）是一款領先的無損檢測工具。它利用高頻超音波對材料內部缺陷進行無損檢測。 SAM是各行業品質控制的理想選擇，可提供清晰的影像，且無輻射風險。

SBT 超音波標準 SAM 專為可靠性和精確性而設計，為微電子、材料科學和品質控制提供業界領先的無損超音波成像。

高解析度聲學成像：輕鬆檢測內部微缺陷、裂縫和黏合失效。

無損檢測（NDT）：在不改變或損壞樣品的情況下評估內部結構。

使用者友善的工作流程：簡化的軟體介面，可實現快速掃描、數據分析和高通量檢測。

SBT掃描聲學顯微鏡（SAM、SAT）利用高頻超音波檢測物體的內部結構、缺陷和材料。它廣泛應用於材料科學、生物醫學、電子工業等領域，幫助使用者實現快速、準確的無損檢測。