標準掃描聲學顯微鏡

SBT Ultrasonic 的標準型掃描聲學顯微鏡 (SAM) 是一款卓越的無損檢測失效分析工具，專為半導體封裝、功率模組和先進材料檢測而最佳化。它結合了精密聲學換能器和高速掃描機構，可提供高對比度的亞表面可視化數據，從而精確定位分層、空隙和結構完整性問題。該系統專為高精度和高重複性而設計，可實現卓越的品質控制和失效分析。