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掃描聲學顯微鏡

掃描聲學顯微鏡

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掃描聲學顯微鏡 IG-US301掃描聲學顯微鏡 IG-US301
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掃描聲學顯微鏡 IG-US301

2024年10月30日

SBT超音波科技有限公司所生產的掃描聲學顯微鏡(SAM)是一款領先的無損檢測工具。它利用高頻超音波對材料內部缺陷進行無損檢測。 SAM是各行業品質控制的理想選擇,可提供清晰的影像,且無輻射風險。

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掃描聲學顯微鏡(半自動)掃描聲學顯微鏡(半自動)
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掃描聲學顯微鏡(半自動)

2024年10月30日

SBT超音波技術有限公司的半自動掃描聲學顯微鏡是一款高效能、高性能的尖端無損檢測工具。憑藉快速掃描和高解析度成像功能,它能夠檢測多達1000層的多層缺陷。該系統配備即時顯示和分析軟體,可提供關於材料的寶貴資訊。 SAM-US302型號可客製化防水夾具,充分展現了SBT超音波技術致力於為各行業提供先進超音波解決方案的承諾。

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多通道超音波檢測系統多通道超音波檢測系統
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多通道超音波檢測系統

2026-07-09

在全球人工智慧和雲端運算蓬勃發展的推動下,傳統的風冷方式已無法滿足高功率資料中心的需求。液冷板(核心系統組件)內部微通道的可靠性至關重要。任何微小的缺陷,例如釬焊不完全、裂縫或通道堵塞,都可能導致長期冷卻液洩漏和代價高昂的晶片故障。 SBT ULTRASONIC 的多通道超音波檢測系統為應對此行業難題提供了一種高效、精確的無損檢測 (NDT) 解決方案。

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自動SAM晶圓304晶圓檢測自動SAM晶圓304晶圓檢測
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自動SAM晶圓304晶圓檢測

2024-07-22

Auto SAM Wafer 304 的全自動聲學顯微鏡能夠快速檢測晶圓上的空腔、氣泡、夾雜物和分層缺陷,是晶圓檢測、鍵結檢測和 MEMS 檢測的理想選擇。配套的自動缺陷檢測軟體可對整個晶圓進行全自動評估。

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標準掃描聲學顯微鏡標準掃描聲學顯微鏡
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標準掃描聲學顯微鏡

2026-06-03

SBT 超音波標準 SAM 專為可靠性和精確性而設計,為微電子、材料科學和品質控制提供業界領先的無損超音波成像。

高解析度聲學成像:輕鬆檢測內部微缺陷、裂縫和黏合失效。

無損檢測(NDT):在不改變或損壞樣品的情況下評估內部結構。

使用者友善的工作流程:簡化的軟體介面,可實現快速掃描、數據分析和高通量檢測。

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自動SAM品質檢測自動SAM品質檢測
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自動SAM品質檢測

2024-07-22

SBT Auto SAM 專為電子裝置、電路板、IGBT(HPD 或 ED3)及其他複雜元件的生產控製而開發。本系統符合 10 級潔淨室標準。其主要應用是檢測焊接或銀燒結界面的缺陷,例如間隙、氣泡、孔洞、夾雜物、分層區域或厚度變化。該系統可同時偵測多層結構。

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SAM(獨立式)-品質檢驗SAM(獨立式)-品質檢驗
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SAM(獨立式)-品質檢驗

2024-07-22

SBT掃描聲學顯微鏡(SAM、SAT)利用高頻超音波檢測物體的內部結構、缺陷和材料。它廣泛應用於材料科學、生物醫學、電子工業等領域,幫助使用者實現快速、準確的無損檢測。

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