Kính hiển vi âm thanh quét

Kính hiển vi quét âm thanh (Scanning Acoustic Microscope - SAM) của công ty TNHH Công nghệ siêu âm SBT là một công cụ kiểm tra không phá hủy (NDE) tiên tiến. Nó sử dụng sóng siêu âm tần số cao để phát hiện các khuyết tật bên trong vật liệu một cách không xâm lấn. Lý tưởng cho việc kiểm soát chất lượng trong nhiều ngành công nghiệp, SAM cung cấp hình ảnh chi tiết mà không có rủi ro bức xạ.

Kính hiển vi âm thanh quét bán tự động của SBT Ultrasonic Technology CO., LTD là một công cụ kiểm tra không phá hủy tiên tiến, mang lại hiệu quả và hiệu suất cao. Với khả năng quét nhanh và hình ảnh độ phân giải cao, nó có thể phát hiện các khuyết tật đa lớp lên đến 1000 lớp. Hệ thống tích hợp phần mềm hiển thị và phân tích thời gian thực, cung cấp những thông tin giá trị về vật liệu. Có thể tùy chỉnh với các phụ kiện chống thấm nước, model SAM-US302 thể hiện cam kết của SBT Ultrasonic Technology trong việc cung cấp các giải pháp siêu âm tiên tiến cho nhiều ngành công nghiệp khác nhau.

Được thúc đẩy bởi sự bùng nổ của trí tuệ nhân tạo (AI) và điện toán đám mây toàn cầu, hệ thống làm mát bằng không khí truyền thống không còn đáp ứng được nhu cầu của các trung tâm dữ liệu công suất cao. Độ tin cậy của các kênh dẫn siêu nhỏ bên trong các tấm làm mát bằng chất lỏng – thành phần cốt lõi của hệ thống – là vô cùng quan trọng. Bất kỳ khuyết điểm nhỏ nào, chẳng hạn như mối hàn không hoàn chỉnh, vết nứt hoặc tắc nghẽn kênh dẫn, đều có thể gây ra rò rỉ chất làm mát lâu dài và dẫn đến hỏng chip tốn kém. Hệ thống kiểm tra siêu âm đa kênh của SBT ULTRASONIC cung cấp giải pháp kiểm tra không phá hủy (NDT) hiệu quả cao và chính xác cho thách thức chung của ngành này.

Kính hiển vi âm thanh hoàn toàn tự động từ Auto SAM Wafer 304 cho phép phát hiện nhanh chóng các lỗ rỗng, bọt khí, tạp chất và sự tách lớp, rất phù hợp cho việc kiểm tra wafer, kiểm tra liên kết và kiểm tra MEMS. Phần mềm đánh giá khuyết tật tự động thực hiện đánh giá hoàn toàn tự động toàn bộ wafer.

Được thiết kế để đảm bảo độ tin cậy và độ chính xác, SBT Ultrasonic Standard SAM cung cấp khả năng tạo ảnh siêu âm không phá hủy hàng đầu trong ngành, ứng dụng trong vi điện tử, khoa học vật liệu và kiểm soát chất lượng.

Hình ảnh âm thanh độ phân giải cao: Dễ dàng phát hiện các khuyết tật siêu nhỏ bên trong, vết nứt và lỗi liên kết.

Kiểm tra không phá hủy (NDT): Đánh giá cấu trúc bên trong mà không làm thay đổi hoặc làm hư hại mẫu vật.

Quy trình làm việc thân thiện với người dùng: Giao diện phần mềm được tối ưu hóa giúp quét nhanh, phân tích dữ liệu và kiểm tra năng suất cao.

Hệ thống SBT Auto SAM được phát triển đặc biệt để kiểm soát sản xuất các thiết bị điện tử, bo mạch, IGBT (HPD hoặc ED3) và các linh kiện phức tạp khác. Hệ thống đáp ứng tiêu chuẩn phòng sạch cấp 10. Ứng dụng chính là kiểm tra các khuyết tật như khe hở, bọt khí, lỗ hổng, tạp chất, vùng tách lớp hoặc sự thay đổi độ dày ở các mối hàn hoặc giao diện thiêu kết bạc. Nhiều lớp có thể được kiểm tra đồng thời.

Kính hiển vi quét âm thanh SBT (SAM, SAT) sử dụng sóng siêu âm tần số cao để phát hiện cấu trúc bên trong, khuyết tật và vật liệu của vật thể. Nó được sử dụng rộng rãi trong khoa học vật liệu, y sinh học, công nghiệp điện tử và các lĩnh vực khác, giúp người dùng thực hiện kiểm tra không phá hủy nhanh chóng và chính xác.