Скануючий акустичний мікроскоп

Скануючий акустичний мікроскоп від SBT Ultrasonic Technology CO., LTD – це передовий інструмент неруйнівного контролю (НРМ). Він використовує високочастотний ультразвук для неінвазивного виявлення внутрішніх дефектів матеріалу. Ідеально підходить для контролю якості в різних галузях промисловості, SAM пропонує детальну візуалізацію без радіаційного ризику.

Напівавтоматичний скануючий акустичний мікроскоп від SBT Ultrasonic Technology CO., LTD – це передовий інструмент неруйнівного контролю, який пропонує високу ефективність та продуктивність. Завдяки швидкому скануванню та зображенню з високою роздільною здатністю він може виявляти багатошарові дефекти в шарах до 1000. Система оснащена програмним забезпеченням для відображення та аналізу в режимі реального часу, що дозволяє отримувати цінну інформацію про матеріали. Модель SAM-US302, яку можна налаштувати за допомогою водонепроникних кріплень, демонструє прагнення SBT Ultrasonic Technology надавати передові ультразвукові рішення для різних галузей промисловості.

Повністю автоматизовані акустичні мікроскопи Auto SAM Wafer 304 дозволяють швидко виявляти порожнини, порожнечі, бульбашки, включення та розшарування, і ідеально підходять для перевірки пластин, перевірки з'єднань та перевірки MEMS. Програмний пакет для автоматичного аналізу дефектів виконує повністю автоматизовану оцінку всієї пластини.

Розроблений для надійності та точності, ультразвуковий стандартний ультразвуковий сканер SBT забезпечує провідну в галузі неруйнівну ультразвукову візуалізацію для мікроелектроніки, матеріалознавства та контролю якості.

Акустична візуалізація високої роздільної здатності: легко виявляє внутрішні мікродефекти, тріщини та порушення зчеплення.

Неруйнівний контроль (НДК): оцінює внутрішні структури без зміни або пошкодження зразка.

Зручний робочий процес: оптимізований програмний інтерфейс для швидкого сканування, аналізу даних та високопродуктивної перевірки.

SBT Auto SAM був спеціально розроблений для виробничого контролю електронних пристроїв, плат, IGBT (HPD або ED3) та інших складних компонентів. Системи відповідають класу чистих приміщень 10. Основне застосування включає перевірку дефектів, таких як зазори, бульбашки, отвори, включення, розшаровані ділянки або зміни товщини в паяних або спечених сріблом інтерфейсах. Можна одночасно перевіряти кілька шарів.

Скануючий акустичний мікроскоп SBT (SAM, SAT) використовує високочастотні ультразвукові хвилі для виявлення внутрішньої структури, дефектів та матеріалів об'єктів. Він широко використовується в матеріалознавстві, біомедицині, електронній промисловості та інших галузях, допомагаючи користувачам проводити швидкий та точний неруйнівний контроль.