กล้องจุลทรรศน์อะคูสติกแบบสแกน

กล้องจุลทรรศน์อะคูสติกแบบสแกน (Scanning Acoustic Microscope) จากบริษัท SBT Ultrasonic Technology CO., LTD เป็นเครื่องมือตรวจสอบแบบไม่ทำลาย (NDE) ที่ล้ำสมัย ใช้คลื่นอัลตราซาวนด์ความถี่สูงในการตรวจจับข้อบกพร่องภายในวัสดุโดยไม่ทำลายชิ้นงาน เหมาะสำหรับการควบคุมคุณภาพในอุตสาหกรรมต่างๆ SAM ให้ภาพที่มีรายละเอียดสูงโดยไม่มีความเสี่ยงจากรังสี

กล้องจุลทรรศน์อะคูสติกแบบสแกนกึ่งอัตโนมัติจาก SBT Ultrasonic Technology CO., LTD เป็นเครื่องมือทดสอบแบบไม่ทำลายที่ล้ำสมัย ให้ประสิทธิภาพและสมรรถนะสูง ด้วยการสแกนที่รวดเร็วและการสร้างภาพความละเอียดสูง สามารถตรวจจับข้อบกพร่องหลายชั้นได้มากถึง 1000 ชั้น ระบบนี้มีซอฟต์แวร์แสดงผลและวิเคราะห์แบบเรียลไทม์ เพื่อให้ได้ข้อมูลเชิงลึกที่มีคุณค่าเกี่ยวกับวัสดุ สามารถปรับแต่งได้ด้วยอุปกรณ์จับยึดกันน้ำ รุ่น SAM-US302 แสดงให้เห็นถึงความมุ่งมั่นของ SBT Ultrasonic Technology ในการนำเสนอโซลูชันอัลตราโซนิกขั้นสูงสำหรับอุตสาหกรรมต่างๆ

ด้วยแรงผลักดันจากการเติบโตอย่างรวดเร็วของ AI และคลาวด์คอมพิวติ้งทั่วโลก ระบบระบายความร้อนด้วยอากาศแบบดั้งเดิมจึงไม่เพียงพอสำหรับศูนย์ข้อมูลกำลังสูง ความน่าเชื่อถือของไมโครแชนเนลภายในแผ่นระบายความร้อนด้วยของเหลว ซึ่งเป็นส่วนประกอบหลักของระบบนั้นมีความสำคัญอย่างยิ่ง ข้อบกพร่องเล็กน้อยใดๆ เช่น การเชื่อมประสานที่ไม่สมบูรณ์ รอยแตก หรือการอุดตันของแชนเนล อาจทำให้เกิดการรั่วไหลของสารหล่อเย็นในระยะยาวและความเสียหายของชิปที่มีค่าใช้จ่ายสูง ระบบตรวจสอบด้วยคลื่นอัลตราโซนิคแบบหลายแชนเนลของ SBT ULTRASONIC มอบโซลูชัน NDT (การทดสอบแบบไม่ทำลาย) ที่มีประสิทธิภาพสูงและแม่นยำเพื่อแก้ไขความท้าทายในอุตสาหกรรมนี้

กล้องจุลทรรศน์อะคูสติกอัตโนมัติเต็มรูปแบบจาก Auto SAM Wafer 304 ช่วยให้ตรวจจับโพรง ช่องว่าง ฟองอากาศ สิ่งเจือปน และการแยกชั้นได้อย่างรวดเร็ว เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบเวเฟอร์ การตรวจสอบการเชื่อมต่อ และการตรวจสอบ MEMS ชุดซอฟต์แวร์ตรวจสอบข้อบกพร่องอัตโนมัติจะทำการประเมินเวเฟอร์ทั้งหมดโดยอัตโนมัติอย่างสมบูรณ์

SBT Ultrasonic Standard SAM ได้รับการออกแบบมาเพื่อความน่าเชื่อถือและความแม่นยำ โดยนำเสนอการถ่ายภาพอัลตราโซนิกแบบไม่ทำลายชั้นนำในอุตสาหกรรม สำหรับไมโครอิเล็กทรอนิกส์ วิทยาศาสตร์วัสดุ และการควบคุมคุณภาพ

การถ่ายภาพอะคูสติกความละเอียดสูง: ตรวจจับข้อบกพร่องขนาดเล็กภายใน รอยแตก และความล้มเหลวในการยึดติดได้อย่างง่ายดาย

การทดสอบแบบไม่ทำลาย (NDT): ประเมินโครงสร้างภายในโดยไม่เปลี่ยนแปลงหรือทำให้ตัวอย่างเสียหาย

ขั้นตอนการทำงานที่ใช้งานง่าย: อินเทอร์เฟซซอฟต์แวร์ที่ออกแบบมาให้ใช้งานง่าย เพื่อการสแกนอย่างรวดเร็ว การวิเคราะห์ข้อมูล และการตรวจสอบที่มีประสิทธิภาพสูง

ระบบ SBT Auto SAM ได้รับการพัฒนาขึ้นเป็นพิเศษสำหรับการควบคุมการผลิตอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ แผงวงจร IGBT (HPD หรือ ED3) และชิ้นส่วนที่ซับซ้อนอื่นๆ ระบบนี้เป็นไปตามมาตรฐานห้องปลอดเชื้อระดับ 10 การใช้งานหลักคือการตรวจสอบข้อบกพร่อง เช่น ช่องว่าง ฟองอากาศ รู สิ่งเจือปน บริเวณที่แยกชั้น หรือความแปรผันของความหนาในส่วนเชื่อมต่อที่บัดกรีหรือเผาผนึกด้วยเงิน สามารถตรวจสอบหลายชั้นพร้อมกันได้

กล้องจุลทรรศน์อะคูสติกแบบสแกน SBT (SAM, SAT) ใช้คลื่นอัลตราโซนิกความถี่สูงในการตรวจจับโครงสร้างภายใน ข้อบกพร่อง และวัสดุของวัตถุ มีการใช้งานอย่างแพร่หลายในด้านวัสดุศาสตร์ ชีวการแพทย์ อุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์ และสาขาอื่นๆ ช่วยให้ผู้ใช้สามารถทำการทดสอบแบบไม่ทำลายได้อย่างรวดเร็วและแม่นยำ