Microscópio acústico de varredura em nível de wafer
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Inspeção automática de wafers SAM 304
22/07/2024
Os microscópios acústicos totalmente automatizados do Auto SAM Wafer 304 permitem a detecção rápida de cavidades, vazios, bolhas, inclusões e delaminação, sendo ideais para inspeção de wafers, verificação de adesão e inspeção de MEMS. Um pacote de software de revisão automática de defeitos realiza uma avaliação totalmente automatizada de todo o wafer.