Leave Your Message
Mikroskop Akustik Pemindaian Tingkat Wafer

Mikroskop Akustik Pemindaian Tingkat Wafer

Kategori Produk
Produk Unggulan
Inspeksi Wafer Auto SAM 304Inspeksi Wafer Auto SAM 304
01

Inspeksi Wafer Auto SAM 304

22 Juli 2024

Mikroskop akustik otomatis sepenuhnya dari Auto SAM Wafer 304 memungkinkan deteksi cepat rongga, lubang, gelembung, inklusi, dan delaminasi, serta sangat cocok untuk inspeksi wafer, pengecekan ikatan, dan inspeksi MEMS. Paket perangkat lunak peninjauan cacat otomatis melakukan evaluasi otomatis sepenuhnya terhadap seluruh wafer.

lihat detail