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ऑटो एसएएम वेफर 304-वेफर निरीक्षण
वेफर-स्तरीय स्कैनिंग ध्वनिक माइक्रोस्कोप

ऑटो एसएएम वेफर 304-वेफर निरीक्षण

ऑटो SAM वेफर 304 के पूर्णतः स्वचालित ध्वनिक माइक्रोस्कोप गुहाओं, रिक्त स्थानों, बुलबुलों, अशुद्धियों और परत-विखंडन का तेजी से पता लगाने में सक्षम हैं और वेफर निरीक्षण, बॉन्ड जांच और MEMS निरीक्षण के लिए आदर्श रूप से उपयुक्त हैं। एक स्वचालित दोष-समीक्षा सॉफ्टवेयर पैकेज संपूर्ण वेफर का पूर्णतः स्वचालित मूल्यांकन करता है।

    परिचय

    ऑटो एसएएम वेफर 304 उत्पाद श्रृंखला विशेष रूप से इनलाइन उत्पादन नियंत्रण के लिए विकसित की गई है। यह क्लीनरूम कक्षा 10 के अनुरूप है और बंधी हुई परतों में गुहाओं, समावेशन या प्रदूषण का पता लगाने के लिए वेफर्स या बॉन्डेड वेफर्स (एमईएमएस) के निरीक्षण के लिए डिज़ाइन किया गया था।

    ऑटो एसएएम वेफर 304 एक पूरी तरह से स्वचालित प्रणाली है जिसमें रोबोटिक वेफर हैंडलिंग, निरीक्षण और निर्णय क्षमताएं शामिल हैं। कई बड़े पैमाने पर उत्पादन लाइनों में निरंतर संचालन में इसका एक सिद्ध ट्रैक रिकॉर्ड है।

    विशेषताएँ

    SAM ऑटो वेफर 304-लेफ्टकेजीआर
    01
    7 जनवरी 2019
    स्वचालित अल्ट्रासोनिक स्कैनिंग
    कक्षा 1-10 से मिलता है
    मल्टी-प्रोब अल्ट्रासाउंड स्कैनिंग
    उच्च रिज़ॉल्यूशन और संवेदनशीलता
    मानक संचार सॉफ़्टवेयर को अपनाएँ

    आवेदन

    ऑटो एसएएम वेफर 304 को बंधी परतों में गुहाओं, समावेशन या प्रदूषण का पता लगाने के लिए वेफर्स या बॉन्डेड वेफर्स (एमईएमएस) के निरीक्षण के लिए डिज़ाइन किया गया था।

    पैरामीटर

    आवेदन

    4'', 6'', 8'', 12'' वेफर्स या बॉन्डेड वेफर्स (एमईएमएस)

    आयाम

    2400x2000x1300㎜

    ट्रांसड्यूसर

    चार ट्रांसड्यूसर, अनुकूलन योग्य

    संकल्प

    1~4000 μm

    बैंडविड्थ

    1-500 मेगाहर्ट्ज

    स्कैनिंग सेटिंग्स

    उच्च परिशुद्धता स्कैनिंग, तेज़ स्कैनिंग

    प्लैटफ़ॉर्म

    संगमरमर का मंच

    एक्स/वाई अक्ष

    लीनियर मोटर, गैन्ट्री डबल ड्राइव

    अधिकतम स्कैनिंग गति

    2000मिमी/सेकंड

    अधिकतम त्वरण

    2जी/एस

    आवृत्ति

    1~300MHz

    स्थिरता

    वेफर के लिए समर्पित, अनुकूलन योग्य

    ऑटो लोडिंग और अनलोडिंग

    अनुकूलन