Skannende akoestyske mikroskoop
Skannende akoestyske mikroskoop IG-US301
De scanning akoestyske mikroskoop fan SBT Ultrasonic Technology CO., LTD is in foarútstribjend NDE-ark. It brûkt hege-frekwinsje-ultragelûd om ynterne materiaalfouten net-invasyf te detektearjen. Ideaal foar kwaliteitskontrôle yn ferskate yndustryen, biedt SAM detaillearre ôfbylding sûnder strielingsrisiko's.
Skannende akoestyske mikroskoop (semi-automatysk)
De Semi-Automatyske Skannende Akoestyske Mikroskoop fan SBT Ultrasonic Technology CO., LTD is in baanbrekkend ark foar net-destruktive testen dat hege effisjinsje en prestaasjes biedt. Mei rappe skennen en ôfbylding mei hege resolúsje kin it mearlaachse defekten yn maksimaal 1000 lagen detektearje. It systeem hat real-time werjefte- en analysesoftware foar weardefolle ynsjoch yn materialen. Oanpasber mei wetterdichte fixtures, lit it SAM-US302-model de ynset fan SBT Ultrasonic Technology sjen foar it leverjen fan avansearre ultrasone oplossingen yn ferskate yndustryen.
Auto SAM Wafer 304-Wafer Ynspeksje
De folslein automatisearre akoestyske mikroskopen fan 'e Auto SAM Wafer 304 meitsje it mooglik om holtes, leechtes, bubbels, ynklúzjes en delaminaasje fluch te detektearjen en binne ideaal geskikt foar waferynspeksje, bondkontrôle en MEMS-ynspeksje. In automatysk softwarepakket foar defektbeoardieling fiert in folslein automatisearre evaluaasje út fan 'e heule wafer.
Auto SAM-kwaliteitsynspeksje
De SBT Auto SAM is spesjaal ûntwikkele foar de produksjekontrôle fan elektroanyske apparaten, boards, IGBT's (HPD of ED3), en oare komplekse komponinten. De systemen foldogge oan skjinne keamerklasse 10. De primêre tapassing omfettet it ferifiearjen fan defekten lykas gatten, bubbels, ynklúzjes, delaminearre gebieten, of diktefarianten yn soldearre of Ag-sinterde ynterfaces. Meardere lagen kinne tagelyk ynspektearre wurde.
SAM (Standalone) - Kwaliteitsynspeksje
De SBT Scanning Acoustic Microscope (SAM, SAT) brûkt hege-frekwinsje ultrasone weagen om de ynterne struktuer, defekten en materialen fan objekten te detektearjen. It wurdt in soad brûkt yn materiaalkunde, biomedyske, elektroanyske yndustry en oare fjilden, wêrtroch brûkers rappe en krekte net-destruktive testen kinne berikke.