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Microscope acoustique à balayage au niveau de la plaquette

Microscope acoustique à balayage au niveau de la plaquette

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Inspection automatique des plaquettes SAM 304Inspection automatique des plaquettes SAM 304
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Inspection automatique des plaquettes SAM 304

2024-07-22

Les microscopes acoustiques entièrement automatisés de l'Auto SAM Wafer 304 permettent une détection rapide des cavités, vides, bulles, inclusions et délaminations. Ils sont parfaitement adaptés à l'inspection des plaquettes, au contrôle des liaisons et à l'inspection des MEMS. Un logiciel d'analyse automatique des défauts effectue une évaluation entièrement automatisée de la plaquette entière.

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