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Standard-Raster-Akustikmikroskop
Standard-Raster-Akustikmikroskop
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Standard-Raster-Akustikmikroskop

Das SBT Ultrasonic Standard SAM wurde für Zuverlässigkeit und Präzision entwickelt und bietet branchenführende zerstörungsfreie Ultraschallbildgebung für Mikroelektronik, Materialwissenschaften und Qualitätskontrolle.

Hochauflösende akustische Bildgebung: Erkennt problemlos interne Mikrodefekte, Risse und Haftungsfehler.

Zerstörungsfreie Prüfung (ZfP): Bewertet innere Strukturen, ohne die Probe zu verändern oder zu beschädigen.

Benutzerfreundlicher Workflow: Optimierte Softwareoberfläche für schnelles Scannen, Datenanalyse und Inspektion mit hohem Durchsatz.

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    EINFÜHRUNG

    Das Standard-SAM-System von SBT Ultrasonic ist ein erstklassiges, zerstörungsfreies Prüfverfahren, optimiert für die Halbleiterfertigung, Leistungsmodule und die Prüfung fortschrittlicher Materialien. Durch die Kombination präziser akustischer Wandler mit einer Hochgeschwindigkeits-Scanmechanik liefert es kontrastreiche, oberflächennahe visuelle Daten zur genauen Lokalisierung von Delaminationen, Lufteinschlüssen und Problemen mit der strukturellen Integrität. Erzielen Sie überlegene Qualitätskontrolle und Fehleranalyse mit einem System, das auf Genauigkeit und Wiederholbarkeit ausgelegt ist.

    MERKMALE

    Rasterakustisches Mikroskop_2
    01
    Standardmodell
    Zerstörungsfreie Prüfverfahren ermöglichen effiziente und wiederholbare Inspektionen.
    Hohe Scangeschwindigkeit und hohe Detektionsgenauigkeit
    Schichtweises Scannen von bis zu 1.000 Schichten

    ANWENDUNGEN

    Schichtinspektion für IGBT- und SiC-Module
    Schichtinspektion für die Halbleiterchip-Verpackung
    Prüfung von 6-Zoll-, 8-Zoll- und 12-Zoll-Wafern (einschließlich Waferbonding)
    Dickenmessung und Prüfung auf innere Defekte bei Diamantmaterialien
    Prüfung auf Schweißfehler an Kühlplatten und Kühlkörpern

    PARAMETER

    Abmessungen 1200 mm × 1500 mm × 2000 mm
    Tankgröße 675 mm × 1500 mm × 150 mm, anpassbar
    Sondenkonfiguration 1 Sonde, 2 Sonden, 4 Sonden
    Maximale Scangeschwindigkeit 2000 km/s
    Auflösung 1～4000 μm
    Automatisches Be- und Entladen √
    Fahrzeuginspektion √
    KI-gestützte Software zur automatischen Fehlerprüfung √