Rasterakustisches Mikroskop

Das Rasterakustikmikroskop (SAM) von SBT Ultrasonic Technology CO., LTD ist ein hochmodernes zerstörungsfreies Prüfverfahren. Es nutzt hochfrequenten Ultraschall zur zerstörungsfreien Erkennung innerer Materialfehler. Ideal für die Qualitätskontrolle in verschiedenen Branchen, bietet SAM detaillierte Bilder ohne Strahlenbelastung.

Das halbautomatische Raster-Akustikmikroskop von SBT Ultrasonic Technology CO., LTD ist ein hochmodernes, zerstörungsfreies Prüfgerät, das sich durch hohe Effizienz und Leistungsfähigkeit auszeichnet. Dank schnellem Scannen und hochauflösender Bildgebung erkennt es mehrschichtige Defekte in bis zu 1000 Schichten. Das System verfügt über eine Echtzeit-Anzeige- und Analysesoftware für wertvolle Einblicke in die Materialeigenschaften. Das Modell SAM-US302, das mit wasserdichten Halterungen individuell angepasst werden kann, unterstreicht das Engagement von SBT Ultrasonic Technology für fortschrittliche Ultraschalllösungen in verschiedenen Branchen.

Angetrieben durch den globalen Boom von KI und Cloud Computing stößt die herkömmliche Luftkühlung für Hochleistungsrechenzentren an ihre Grenzen. Die Zuverlässigkeit der internen Mikrokanäle in den Flüssigkeitskühlplatten – dem Kern des Systems – ist von entscheidender Bedeutung. Selbst kleinste Defekte wie unvollständige Lötverbindungen, Risse oder Kanalverstopfungen können zu langfristigen Kühlmittellecks und kostspieligen Chipausfällen führen. Das Mehrkanal-Ultraschall-Inspektionssystem von SBT ULTRASONIC bietet eine hocheffiziente und präzise Lösung für die zerstörungsfreie Prüfung (ZfP) dieser branchenweiten Herausforderung.

Die vollautomatischen Akustikmikroskope des Auto SAM Wafer 304 ermöglichen die schnelle Erkennung von Hohlräumen, Fehlstellen, Blasen, Einschlüssen und Delaminationen und eignen sich ideal für die Waferinspektion, Bondprüfung und MEMS-Inspektion. Eine automatische Fehleranalyse-Software führt eine vollautomatische Auswertung des gesamten Wafers durch.

Das SBT Ultrasonic Standard SAM wurde für Zuverlässigkeit und Präzision entwickelt und bietet branchenführende zerstörungsfreie Ultraschallbildgebung für Mikroelektronik, Materialwissenschaften und Qualitätskontrolle.

Hochauflösende akustische Bildgebung: Erkennt problemlos interne Mikrodefekte, Risse und Haftungsfehler.

Zerstörungsfreie Prüfung (ZfP): Bewertet innere Strukturen, ohne die Probe zu verändern oder zu beschädigen.

Benutzerfreundlicher Workflow: Optimierte Softwareoberfläche für schnelles Scannen, Datenanalyse und Inspektion mit hohem Durchsatz.

Das SBT Auto SAM wurde speziell für die Produktionskontrolle von elektronischen Bauelementen, Leiterplatten, IGBTs (HPD oder ED3) und anderen komplexen Komponenten entwickelt. Die Systeme entsprechen der Reinraumklasse 10. Hauptanwendungsgebiet ist die Überprüfung von Defekten wie Spalten, Blasen, Löchern, Einschlüssen, Delaminationen oder Dickenabweichungen an Löt- oder Ag-Sintergrenzflächen. Mehrere Schichten können gleichzeitig geprüft werden.

Das SBT-Rasterakustikmikroskop (SAM, SAT) nutzt hochfrequente Ultraschallwellen zur Untersuchung der inneren Struktur, von Defekten und der Materialeigenschaften von Objekten. Es findet breite Anwendung in der Materialwissenschaft, der Biomedizin, der Elektronikindustrie und anderen Bereichen und ermöglicht Anwendern schnelle und präzise zerstörungsfreie Prüfungen.