Rasterakustisches Mikroskop IG-US301
Das Rasterakustikmikroskop von SBT Ultraschalltechnologie CO., LTD ist ein hochmodernes NDE-Werkzeug. Es nutzt hochfrequenten Ultraschall, um interne Materialfehler nicht-invasiv zu erkennen. SAM ist ideal für die Qualitätskontrolle in verschiedenen Branchen und bietet detaillierte Bildgebung ohne Strahlungsrisiken.
Rasterakustisches Mikroskop (halbautomatisch)
Das halbautomatische akustische Rastermikroskop von SBT Ultraschalltechnologie CO., LTD ist ein hochmodernes zerstörungsfreies Prüfgerät, das hohe Effizienz und Leistung bietet. Durch schnelles Scannen und hochauflösende Bildgebung können Mehrschichtdefekte in bis zu 1000 Schichten erkannt werden. Das System verfügt über eine Echtzeit-Anzeige- und Analysesoftware für wertvolle Einblicke in Materialien. Das mit wasserdichten Halterungen anpassbare Modell SAM-US302 unterstreicht das Engagement von SBT Ultraschalltechnologie, fortschrittliche Ultraschalllösungen für verschiedene Branchen bereitzustellen.
Automatische SAM-Wafer-304-Wafer-Inspektion
Die vollautomatischen Akustikmikroskope des Auto SAM Wafer 304 ermöglichen die schnelle Erkennung von Hohlräumen, Fehlstellen, Blasen, Einschlüssen und Delaminationen und eignen sich ideal für die Waferinspektion, Bondprüfung und MEMS-Inspektion. Eine automatische Fehleranalyse-Software führt eine vollautomatische Auswertung des gesamten Wafers durch.
Automatische SAM-Qualitätsprüfung
Der SBT Auto SAM wurde speziell für die Produktionssteuerung von elektronischen Geräten, Platinen, IGBTs (HPD oder ED3) und anderen komplexen Komponenten entwickelt. Die Systeme entsprechen der Reinraumklasse 10. Die Hauptanwendung besteht in der Überprüfung von Fehlern wie Lücken, Blasen, Löchern, Einschlüssen, delaminierten Bereichen oder Dickenschwankungen in gelöteten oder Ag-gesinterten Schnittstellen. Es können mehrere Schichten gleichzeitig geprüft werden.
SAM (Standalone)-Qualitätsprüfung
Das SBT-Rasterakustikmikroskop (SAM, SAT) nutzt hochfrequente Ultraschallwellen zur Untersuchung der inneren Struktur, von Defekten und der Materialeigenschaften von Objekten. Es findet breite Anwendung in der Materialwissenschaft, der Biomedizin, der Elektronikindustrie und anderen Bereichen und ermöglicht Anwendern schnelle und präzise zerstörungsfreie Prüfungen.


